IDs:

230

Authors : Tóth,A,L;Dozsa,L;Gyulai,J;Gianazzo,F;Rainieri,V
Title : SCTS: Scanning Capacitance Transient Spectroscopy
JournalName : Materials Science in Semiconductor Processing
PubDateYear : 2001
PubDateOther :
Volume : 4
Issue :
StartPage : 89
EndPage : 91
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