IDs:

224

Authors : Franc,J;Belas,E;Tóth,A,L;Ivanov,Y,M;Sitter,H;Moravec,P;Höschl,P
Title : Determination of Diffusion Lengths of Minority Carriers in Cd1-xZnxTe (x»0.04) by the EBIC method
JournalName : Semicond.Sci.Technol.
PubDateYear : 1998
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Volume : 13
Issue :
StartPage : 314
EndPage : 317
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